Uchina Nebula Laptop Lithium Battery Pack PCM System Test System mtengenezaji na muuzaji |Nebula

Nebula Laptop Lithium Betri Pakiti PCM Mfumo wa Jaribio la Picha Iliyoangaziwa

Mfumo wa Mtihani wa Kifungashio cha Betri ya Kompyuta ya Laptop ya Lithium ya Nebula

Huu ni mfumo wa kupima uliounganishwa na PCM, unafaa kwa ajili ya kutathmini sifa za kimsingi na za ulinzi za PCM katika betri za Li-ion za kompyuta ndogo.It is primarily used for downloading parameters, calibrating, and testing the protection functions of Texas Instruments' Gas Gauge ICs (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100, BQ9000, BQ40Z551, BQ27546 , BQ27742, na BQ27741).

WASILIANA NA SASA

VIPENGELE

Inatumika na IC za Kipimo cha Gesi zenye anuwai pana na usahihi wa juu wa majaribio

Huangazia muundo wa moduli unaojitegemea, wa njia nyingi kwa urahisi wa matengenezo na uingizwaji, pamoja na anuwai ya kazi za kuripoti data.

Njia za kujitegemea kupima sambamba kwa wakati mmoja, haraka na kuokoa rasilimali watu

MAELEZO

Mfano	BAT-NEZ-04-V006
Kigezo	Masafa	Usahihi
Voltage ya Pato la Betri ya Analogi	100~4800mV	±1mV
Pato la Betri ya Analogi ya Sasa	0 ~ 500mA	±1mA
Voltage ya Pato ya Chanzo cha Sasa cha Mara kwa Mara	0 ~ 4000mV	/
Pato la Sasa la Chanzo cha Sasa Mara kwa Mara	20A~30A	±20mA
	3A~20A	±10mA
	20mA ~ 3000mA	±1mA
Kipimo cha Voltage ya Pato la Betri ya Analogi	100~4800mV	±1mV
Kipimo cha Pato la Betri ya Analogi ya Sasa	0 ~ 500mA	±1mA
Upimaji wa Voltage ya Pato la Chanzo cha Mara kwa Mara cha Sasa	0-4000mV	/
Upimaji wa Pato la Kawaida la Chanzo cha Sasa	20A~30A	±10mA
	3A~20A	5mA
	20mA ~ 3000mA	±1mA