Kifaa cha Kuvaliwa cha Kichina cha Nebula cha Lithium Pakiti ya Mfumo wa Kujaribu wa PCM mtengenezaji na muuzaji |Nebula

Nebula Kifaa Kinachoweza Kuvaliwa cha Betri ya Lithium ya Mfumo wa Kujaribu wa Picha Iliyoangaziwa

Mfumo wa Jaribio la Kifurushi cha PCM cha Kifaa cha Lithium kinachovaliwa cha Nebula

BAT-NEWS-04-V002 ni kijaribu sahihi cha hali ya juu na cha haraka cha kutathmini sifa za kimsingi na vipengele vya ulinzi vya bodi ya mzunguko ya ulinzi ya betri ya lithiamu inayoweza kuvaliwa, na kuifanya inafaa kwa ajili ya kutathmini bodi ya ulinzi wa betri ya lithiamu ya vipokea sauti vinavyobanwa kichwani visivyotumia waya, miswaki ya umeme, saa mahiri. , miwani mahiri, na vifaa vingine vinavyoweza kuvaliwa.

WASILIANA NA SASA

VIPENGELE

Inajivunia kasi ya majibu ya sasa ya kiwango cha microsecond, na muda wa sasa wa majibu wa chini ya sekunde 50 na muda wa majibu ya voltage ya chini ya millisecond 1, pamoja na usahihi wa sasa wa pato la ± 0.5mA na usahihi wa voltage ya ± 0.2mV.

Inatumika na IC mbalimbali za Kipimo cha Gesi, ikijumuisha Msururu wa Usimamizi wa TI wa Marekani (kama vile B027742, B0277410, B028z610, BO 27541, BO 27545, BO2753X).

Hutoa ulinzi wa kina dhidi ya chaji kupita kiasi, kutokwa kwa maji kupita kiasi, halijoto kupita kiasi, kupita kiasi, na mzunguko mfupi wa mzunguko.Utendaji wake wa usalama umejaribiwa kwa upinzani, uwezo, matumizi ya kibinafsi, na kuchoma kwa chip.

Muundo huru wa moduli wa idhaa nyingi hurahisisha kudumisha na kuboresha.

MAELEZO

Kiashiria	Masafa	Usahihi
Voltage ya pato	50 ~ 5000mV	±(0.01%%RD+0.01%FS)
Pato la Sasa	0 ~ 1000mV	±(0.01%%RD+0.01%FS)
Kipimo cha Voltage ya Pato	50 ~ 5000mV	±(0.01%%RD+0.01%FS)
Kutumia Kipimo cha Sasa	(kiwango cha mA) 0~1000mA	±(0.01%%RD+0.01%FS)
	(kiwango cha uA) 1 ~ 2000uA	±(0.01%%RD+ 1uA)
	(kiwango cha nA) 20~1000nA	±(0.01%%RD+ 5uA)